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VSM8A二重卷邊檢測投影儀檢測模式詳解

日期:2023/10/11 10:15:07
測量模式設置:測量時(shí)選擇不同的測量模式中的一種

 

兩點(diǎn)模式

測量?jì)牲c(diǎn)的水平或者垂直距離。當兩點(diǎn)的水平距離大于垂直距離時(shí),系統判斷為測量水平距離,否則兩點(diǎn)模式測量的是垂直距離。

 

五點(diǎn)模式

通過(guò)十字交叉線(xiàn)可觀(guān)測到5個(gè)點(diǎn),用回車(chē)鍵進(jìn)行確認,可獲得卷邊長(cháng)度、罐身鉤長(cháng)度、罐蓋鉤長(cháng)度及搭接長(cháng)度。

         

 

 

 

 

 

 

五點(diǎn)模式                    七點(diǎn)模式                八點(diǎn)模式 

七點(diǎn)模式

通過(guò)十字交叉線(xiàn)可觀(guān)測到7個(gè)點(diǎn),用回車(chē)鍵進(jìn)行確認,可獲得卷邊長(cháng)度、搭接長(cháng)度、搭接百分率、罐身鉤長(cháng)度、罐蓋鉤長(cháng)度及罐身鉤搭接百分率。

 

八點(diǎn)模式

通過(guò)十字交叉線(xiàn)可觀(guān)測到8個(gè)點(diǎn),用回車(chē)鍵進(jìn)行確認,可獲得卷邊長(cháng)度、搭接長(cháng)度、搭接百分率、罐身鉤長(cháng)度、罐蓋鉤長(cháng)度、罐身鉤搭接百分率及卷邊間隙。

 

卷邊厚度測量

在菜單模式"5+2", "7+2", and "8+2"下,除了上述提到的測量參數外,還可以進(jìn)行卷邊厚度的測量。所有測量過(guò)程中,您所選擇的測量模式總會(huì )顯示在屏幕上方。

 

卷邊厚度測量中的X-jumpX-offset

對于卷邊厚度測量必須先確定測量點(diǎn)的頂點(diǎn),在這點(diǎn)上進(jìn)行卷邊厚度測量,壓住鼠標左鍵可獲取新的X-jumpX-offset設定值。輔助線(xiàn)與卷邊上沿的交叉點(diǎn)是卷邊厚度測定的第一個(gè)點(diǎn),您所采用的x-jump值是一個(gè)經(jīng)驗值,一般建議在1,5 - 2,0 mm 之間。輔助斜線(xiàn)與卷邊下沿的交叉點(diǎn)是卷邊厚度測定的第二個(gè)點(diǎn),卷邊厚度軟件在選擇上述兩點(diǎn)后會(huì )自動(dòng)呈現,您所采用的x- offset值是一個(gè)經(jīng)驗值,一般建議在4°- 8° 之間。兩值的修改可通過(guò)按組合鍵Alt+Ctr+鼠標左鍵進(jìn)入修改界面。

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